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Chroma 19305/19305-10繞線元件脈沖測試儀

主要特色：

• 脈沖測試高取樣率(200MHz)
• 6kV 可程式脈沖測試
• 崩潰電壓分析
• 高速測試
• 單機大10通道掃描測試(19305-10)
• 可選配外接高壓掃描治具(40ch max.)
• 繁中/ 簡中 / 英文操作介面
• USB波形儲存& 畫面擷取功能
• 圖形化彩色顯示
• 標準LAN,USB,RS232介面

Chroma 19305系列為繞線元件脈沖測試器，系列機種包含19305單通道及19305-10 10通道輸出測試，蕞高擁有6kV脈沖電壓與200MHz高速取樣率 提高放電檢測能力，10uH感量以上產(chǎn)品測試，擁 有波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動總量 (Flutter) 及波形二階微分數(shù) (Laplacian) 等判定 方法，可有效檢測線圈自體絕緣不良。

繞線元件于生產(chǎn)檢測包含電氣特性、電氣安規(guī)耐 壓進行測試，而線圈之自體絕緣不良通常是造成 線圈于使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、跨線短路、出 腳短路之根源。其形成原因可能源于初始設(shè)計不良、加工制程不良或絕緣材料之劣化等所引起， 故加入線圈層間短路測試有其必要性。

所謂的『繞線元件脈沖測試』基本上是以一『非 破壞性』、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測物 上，再藉由分析／比對待測物良品與不良品之等 效波形以達到判定良否之目的。繞線元件脈沖測 試主要功能乃在早期發(fā)現(xiàn)繞線元件中各種潛在之 缺陷，例如：層間短路、甚至是不易發(fā)覺之部分放 電等。

Chroma 19305系列為針對繞線元件測試需求所設(shè) 計，利用一高壓充電之微小電容(測試能量低)與 待測線圈形成RLC并連諧振，由諧振之衰減波形， 透過高速且精密的取樣處理分析技術(shù)，可檢驗出 線圈自體之絕緣不良及局部放電，提供變壓器、 電感等繞線產(chǎn)品進行層間短路測試，讓繞線元件 生產(chǎn)廠商及使用者在品質(zhì)驗證時，不但擁有可靠 的測試品質(zhì)，能更有效率為產(chǎn)品品質(zhì)把關(guān)。

Chroma 19305-10對于產(chǎn)線上的測試需求提供多 通道掃描應(yīng)用(大10通道) ，單機10通道輸出可達成一次多顆掃描測試，節(jié)省測試時間及人力成 本。

四種波形判定模式

• 波形面積比較 (Area Size)
• 波形面積差比較 (Differential Area)
• 波形顫動總量 (Flutter Value)
• 波形二階微分數(shù) (Laplacian Value)

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 Chroma 19305/19305-10繞線元件脈沖測試儀